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偏振相關(guān)介質(zhì)的種類
在OpticStudio中有多種可以改變輸入光偏振態(tài)的方法。這些方法引入了偏振相關(guān)的表面或材料。下面我們來介紹三種方法并描述它們在通常情況下的應(yīng)用場景。
1、瓊斯矩陣
瓊斯矩陣表面是一個(gè)理想的面型并且默認(rèn)輸入光為垂直入射。該表面使用2x2矩陣表示瓊斯向量（用來描述電場）如下式所示：
其中A, B, C, D, Ex和Ey均為復(fù)值。該矩陣可以通過二維向量描述三維電場但前提假設(shè)是默認(rèn)其傳播方向與Z軸重合。因此，電場分量只在XY平面。如果光線確實(shí)沿Z軸準(zhǔn)直入射系統(tǒng)，則該表面可以提供理想的分析結(jié)果，并描述出P和S偏振態(tài)的變化及透過率的變化。
OpticStudio也允許在斜入射的情況下使用瓊斯矩陣表面，但這種情況下該分析功能只能提供近似結(jié)果。并且矩陣無法考慮電場在Z方向上的分量產(chǎn)生的影響，即雙折射現(xiàn)象或菲涅爾效應(yīng)等。
如果使用瓊斯矩陣來模擬光延遲器件，則入射光必須垂直于該表面。如果您需要準(zhǔn)確計(jì)算離軸的相位變化，您需要使用雙折射輸入 (Birefringent In) 和雙折射輸出 (Birefringent Out) 表面。
瓊斯矩陣可以較好的模擬離軸入射下的起偏器。表面將允許電場在Z方向上傳輸，并可以像電場X分量和Y分量一樣進(jìn)行模擬。在模擬結(jié)果中和向量K平行的分量將被減去，因此電場保持與向量K垂直。如果需要生成一個(gè)表面可以改變Ez分量，您可以使用光學(xué)鍍膜。
2、光學(xué)表面鍍膜
OpticStudio允許用戶定義實(shí)際鍍膜或理想鍍膜并將這些應(yīng)用在光學(xué)系統(tǒng)上。同時(shí)OpticStudio的鍍膜數(shù)據(jù)庫包含了大量常用的膜層數(shù)據(jù)。雖然鍍膜可以用于多種不同的應(yīng)用環(huán)境，但本文將只關(guān)注鍍膜對光線偏振態(tài)的影響。
在討論鍍膜的影響之前，我們必須考慮到電場的強(qiáng)度和偏振態(tài)是由向量表示的：
其中Ex, Ey, Ez均為復(fù)值。電場向量E必須垂直于光線傳播的方向向量。在兩種介質(zhì)的邊界處，透過率、反射率和電場的相位在P分量和S分量上各不相同。電場的S分量為E在與入射平面垂直的光軸方向上的分量，P分量為E在入射平面上的分量。入射平面包含光線傳播向量和表面在入射點(diǎn)處的法向量。需要注意的是：光線在垂直表面入射時(shí)，該定義方式會變得模糊。
因此我們可以看出，P和S偏振態(tài)的定義與表面相關(guān)。如果在表面上添加了鍍膜，則光線透過的比例會根據(jù)系統(tǒng)設(shè)置中偏振的參考方式不同而顯著變化。
舉例來說，有限距離內(nèi)的物點(diǎn)發(fā)出的光穿過一個(gè)鍍膜的平面，該平面鍍膜只允許P光通過。該物點(diǎn)發(fā)出的光線具有初始偏振態(tài)Jx=0，Jy=1。當(dāng)參考軸在X或Y軸中變化時(shí)，P光和S光的透過率發(fā)生顯著變化。這是因?yàn)檩斎氲钠駪B(tài)Jx和Jy在表面上分別平行于全局X軸和全局Y軸。
然而當(dāng)參考于Z軸時(shí)，Jx和Jy跟隨全局Z軸旋轉(zhuǎn)變化，因此偏振態(tài)沒有改變。
因此，在使用鍍膜改變光的偏振時(shí)，您需要注意輸入光參考軸的定義方式。
如您想進(jìn)行驗(yàn)證，您可以使用Ideal2或表格鍍膜(Table Coating)格式文件，對P光和S光自定義透過率的實(shí)部和虛部。這些格式的鍍膜數(shù)據(jù)可以非常有效的模擬理想偏振器。此外，您還可以使用優(yōu)化操作數(shù)CODA針對特定偏振數(shù)據(jù)對鍍膜進(jìn)行優(yōu)化。
3、雙折射輸入/輸出
在OpticStudio中模擬雙折射材料的方法于瓊斯矩陣和表面鍍膜不同。如果想要在序列模式下定義雙折射元件，您必須在透鏡數(shù)據(jù)編輯器中定義兩個(gè)表面，即雙折射輸入表面和雙折射輸出表面。在這兩個(gè)表面定義的邊界之內(nèi)，OpticStudio會使用兩種材料，一種以雙折射材料的尋常折射率來定義，另一種以非尋常折射率定義。OpticStudio會使用雙折射輸入面型中定義的材料折射率來定義尋常折射率。隨后OpticStudio會在材料名后添加“-E”并在當(dāng)前加載的材料庫中尋找該材料，其折射率會用于定義非尋常折射率。
相比瓊斯矩陣，該種方法允許用戶計(jì)算菲涅爾系數(shù)和材料吸收以得到更加的透過率結(jié)果。用戶可以選擇單獨(dú)追跡尋常光和非尋常光或只追跡其中一種并考慮另一種對相位的影響。該計(jì)算類型是通過雙折射輸入/輸出中的模式 (Mode Flag) 參數(shù)來控制。使用雙折射輸入/輸出表面模擬雙折射現(xiàn)象的限制是它不考慮光線分裂。如果您需要考慮光線分裂，請將系統(tǒng)轉(zhuǎn)換到非序列模式中。
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